Performance analysis of RIS-empowered OFDM-IM communications under Weibull fading and joint Tx/Rx I/Q imbalance

Ceniklioğlu B., Develi I., Canbilen A. E.

TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES, cilt.33, sa.6, ss.803-815, 2025 (SCI-Expanded, Scopus, TRDizin)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 33 Sayı: 6
• Basım Tarihi: 2025
• Doi Numarası: 10.55730/1300-0632.4158
• Dergi Adı: TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES
• Derginin Tarandığı İndeksler: Scopus, Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Compendex, TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.803-815
• Uşak Üniversitesi Adresli: Evet