Düşük boyutlu yarıiletkenlerde alan altında safsızlıkların diamanyetik alınganlığı


Doç. Dr. ERCAN KILIÇARSLAN

Tez Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Sivas Cumhuriyet Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik (Yl) (Tezli), Türkiye

Tez Danışmanı: HÜSEYİN SARİ

Tezin Onay Tarihi: 2009